T-80高低温探针台|SeeweTek晟为|磁场发生装置_磁学测试方案_物性测试方案

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    T-80高低温探针台
    产品简述:高低温探针探针台T-80可以对器件进行非破坏性的测试,器件的最大尺寸可达到80mm(选配)。可以对材料或器件的电学特性、光电特性等效应进行测量,为DC测量RF测量和微波特性测量提供一个低温测试平台。纳米电子材料、量子线、量子点和半导体材料是在探针台上进行测量的比较典型的材料。探针台系统的探针、测试电缆、样品台都有多种类型可供选择,从而满足不同用户的需要。
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    产品概述

    高低温探针探针台T-80可以对器件进行非破坏性的测试,器件的最大尺寸可达到80mm(选配)。可以对材料或器件的电学特性、光电特性等效应进行测量,为DC测量RF测量和微波特性测量提供一个低温测试平台。纳米电子材料、量子线、量子点和半导体材料是在探针台上进行测量的比较典型的材料。探针台系统的探针、测试电缆、样品台都有多种类型可供选择,从而满足不同用户的需要。

    T-80的温度变化范围从室温80K ~ 473.15K,系统需要使用高精度电热器实现变温,防热辐射屏大大降低了黑体辐射,提高了温度效率。样品台上装有温度传感器和加热器,实现样品台快速变温以及精准控温。

    高温探针探针台T-80具有四个可以进行微调的探针臂,每个探针臂上的探针都可以进行三维方向上的精准定位。探针采用钨合金探针,针尖直径5微米,减少探针对样品的热传导。每个探针臂都采用304优质不锈钢加G10制作而成,每个探针臂都进行有效的热沉,减小探针臂漏热进而减少探针对样品的漏热。

    为了提高系统的实用性和操作性,系统配备了高放大倍数的显微镜。


    可提供的磁场探针台产品范围

    • 一维水平磁场 (低温/室温) 探针台
    • 一维水平旋转磁场探针台
    • 探针台一维垂直磁场 (低温/室温)
    • 二维磁场探针台
    • 三维磁场探针台
    • 其他定制型磁场探针台产品选型磁场维度,磁场方向,磁场强度被测样品尺寸探针数量及频率范围探针移动范围及精度显微镜分辨率一维水平磁场探针台一维水平旋转磁场探针台一维垂直磁场室温探针台二维磁场探针台三维磁场探针台

    T-80降温曲线

    参考图例

    参考技术案例