T-80GD高低温探针测试平台|SeeweTek晟为|磁场发生装置_磁学测试方案_物性测试方案

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    T-80GD高低温探针测试平台
    产品简述:高低温真空探针台T-80GD可以对器件进行非破坏性的测试。可以对材料或器件的电学特性、光电特性等效应进行测量,为DC测量RF测量和微波特性测量提供一个高温测试平台。纳米电子材料、量子线、量子点和半导体材料是在探针台上进行测量的比较典型的材料。探针台系统的探针、测试电缆、样品台都有多种类型可供选择,从而满足不同用户的需要。
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    产品概述

    高低温真空探针台T-80GD可以对器件进行非破坏性的测试。可以对材料或器件的电学特性、光电特性等效应进行测量,为DC测量RF测量和微波特性测量提供一个高温测试平台。纳米电子材料、量子线、量子点和半导体材料是在探针台上进行测量的比较典型的材料。探针台系统的探针、测试电缆、样品台都有多种类型可供选择,从而满足不同用户的需要。

    T-80GD的温度变化范围:室温 ~ 773.15K(选配),采用PID温度控制,控制器分辨率:±0.1℃,传感器温度误差:任何一区段0.5%,温度稳定性优于:+/- 50mK,系统需要使用电阻加热实现变温,防热辐射屏大大降低了黑体辐射,提高了测试效率。样品台上装有温度传感器和加热器,实现样品台快速变温以及精准控温。

    液氮探针台T-80GD具有四个可以进行微调的探针臂,每个探针臂上的探针都可以进行三维方向上的精准定位。探针采用铍或者钨制成,针尖直径1微米,减少探针对样品的热传导。每个探针臂都采用304优质不锈钢加G10制作而成,每个探针臂都进行有效的热沉,减小探针臂漏热进而减少探针对样品的漏热。从而提高系统的实用性和操作性。


    可提供的磁场探针台产品范围

    • 一维水平磁场 (低温/室温) 探针台
    • 一维水平旋转磁场探针台
    • 探针台一维垂直磁场 (低温/室温)
    • 二维磁场探针台
    • 三维磁场探针台
    • 其他定制型磁场探针台产品选型磁场维度,磁场方向,磁场强度被测样品尺寸探针数量及频率范围探针移动范围及精度显微镜分辨率一维水平磁场探针台一维水平旋转磁场探针台一维垂直磁场室温探针台二维磁场探针台三维磁场探针台

    产品特点

    • 室温 ~ 773.15K宽温区(连续变温)
    • 温度分辨率 0.01K
    • 控温精度:0.1K
    • 探针位移精度10微米
    • 四个DC同轴探针臂(可以更换射频探针)
    • 探针XY轴行程25mm
    • 探针Z轴行程大于50mm
    • 腔体真空度:10^-5mbar;
    • 腔体漏率:1*10^-8Pa.M3
    • 样品台:50mm(可定制)
    • 窗口直径:50mm
    • 窗口材质:熔融石英
    • 位移精度:10μm
    • 针尖直径:1μm
    • 配备大倍数高清电子显微镜
    • 探针材料铍铜或者钨
    • 升温时间时间30分钟

    参考技术案例

    降温曲线

    案例